摘要

针对球栅阵列封装的车用集成电路高可靠应用要求,分析了无铅焊球的结构与失效模式间的关系。通过比较车用集成电路剪切测试标准与通用标准的差异,提出了焊球剪切测试过程中速率、位置、角度等影响测试结果的因素,并通过试验评估了各因素对测试结果的影响程度,为用户产品通过鉴定试验提供支撑。

  • 单位
    中国电子技术标准化研究院