底部端子元器件的焊接工艺

作者:韩潇; 侯志鹏; 齐乐; 廉志宏
来源:焊接技术, 2022, 51(02): 51-56.
DOI:10.13846/j.cnki.cn12-1070/tg.2022.02.009

摘要

在电子产品生产中,底部端子元器件在焊接过程中极易出现空洞现象,底部端子元器件空洞主要表现在TO封装的MOSFET上。为提高产品质量,减少MOSFET上空洞的形成至关重要。文中主要从PCB焊盘设计、钢网板的设计、焊接方法改进等方面来提高TO封装过程中的工艺水平,从而使空洞率有效降低,对提高产品质量具有重要意义。

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