高可靠固态厚膜熔断器耐脉冲能力研究

作者：张义; 彭昌文; 王征; 陈德舜; 张希涛; 武志新

来源：电子元件与材料, 2018, 37(03): 58-63.

DOI：10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.03.011

• 高可靠固态厚膜熔断器
• 脉冲次数
• 2t" name="keyword">I2t
• 冷态电阻
• 变化因子
• 关系曲线

熔断器在经受一定循环次数脉冲电流冲击后会产生寿命疲劳,进而发生产品熔断失效。选取航天器用高可靠固态厚膜熔断器作为典型品种,开展高可靠固态厚膜熔断器的耐脉冲能力研究,将影响熔化热能I2t值的峰值电流和脉冲冲击时间作为变化因子设计不同的试验条件,对试验结果及数据进行系统、深入地分析,得到了高可靠固态厚膜熔断器在不同脉冲I2t值下降额使用因子和关系曲线,为后续航天型号任务选用该结构熔断器提供借鉴。

• 单位
  中国空间技术研究院