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摘要
针对印制电路板关键轮廓特征提取难的问题,提出了一种将折边线转化为边界线,再进行关键轮廓线特征点提取的算法。该算法首先利用k维树对印制电路板原始点云数据建立拓扑结构,从而实现对k邻域点的快速查找,采用直通滤波算法完成对印制电路板点云的整体预处理;其次通过随机采样一致性算法将印制电路板中面积最大的平面特征单独提取出来,使关键轮廓特征实现了在空间上的分离;再采用基于法向量夹角限制条件的欧氏聚类完成折边特征的点聚类,从而实现将折边线转化为边界线的思想;最后根据k邻域点之间向量的夹角与设定阈值之间的大小关系,来判定查询点是否属于边界轮廓特征点。实验结果表明,该算法能够较为完整地提取出印制电路板点云的关键轮廓线特征信息。
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单位中国电子科技集团公司第十研究所; 西南交通大学
