基于不平衡电路的单元内开路缺陷测试电路及其测试方法

作者:梁**; 胡杰文; 王斯禹; 鲁迎春; 易茂祥; 黄正峰
来源:2023-07-19, 中国, CN202310887089.7.

摘要

本发明公开了一种基于不平衡电路的单元内开路缺陷测缺陷测试电路及其测试方法,该电路包括:RO环,其与待测电路的输入端相连接,用于提供测试信号;对待测电路进行分析并进行配置;不平衡电路由并联的两条电路支路组成,其中一条电路支路包括高阈值电平反相器,另一电路支路包括低阈值电平反相器;脉冲检测电路,由普通反相器和施密特触发器反相器并联组成,都连接到异或门的另一个输入端,分别与高阈值电平反相器和低阈值电平反相器的输出端相连接,分别产生不同的响应;脉冲下降沿检测电路,对脉冲下降沿进行检测并计数,确定单元内是否存在开路缺陷。本发明能够有效地识别难以检测出的弱阻性开路缺陷,从而能提高测试精度和效率。