科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
以漏磁探测器为研究对象,基于漏磁检测原理,采用有限元分析法就缺陷特征对漏磁场检测的影响开展研究。结果表明:漏磁场垂直方向分量Bz峰值随提离值的增大而减小;缺陷宽度为2～3 mm时Bz变化较小;底板厚度6～10 mm时,Bz峰值随底板厚度的增加近似呈线性减小趋势;底板厚度10～12 mm时,Bz峰值随底板厚度的增加而快速减小,最小峰值为2.9 mT;检测方向对漏磁场影响明显,垂直长轴方向的磁感应强度B和Bz峰值远大于平行长轴方向的值,因此在实际漏磁检测中对于发现的异常缺陷应从不同的检测方向进行复验。
