不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议

作者：张欣; 李高扬; 黄荣辉; 向真; 赵宇明; 姚森敬; 王小华

来源：高压电器, 2016, 52(03): 184-194.

DOI：10.13296/j.1001-1609.hva.2016.03.030

• GIS
• 运行年限
• 缺陷率
• 控制系统
• 密封
• 机构

随着组合电器运行年限的增高,其缺陷率往往呈现增高的趋势。通过统计近年来南方电网部分地区在不同运行年限组合电器的缺陷率情况,并对组合电器的控制系统、密封、机构等组成部分的缺陷单独进行详细的分析,揭示了不同类别缺陷的增长变化规律,并对运行在不同阶段组合电器的运维重点提出了建议。

• 单位
  深圳供电局有限公司; 电力设备电气绝缘国家重点实验室; 西安交通大学