光谱辐射测量金属薄膜桥电爆炸温度

作者：王广海; 李国新; 焦清介; 刘桂林

来源：含能材料, 2009, (05): 616-618.

• 军事化学与烟火技术
• Ni-Cr薄膜
• 电爆炸
• 光谱 military chemistry and pyrotechnic engineering
• Ni-Cr thin film bridge
• electrical explosion
• spectrum

采用光谱辐射法测量了Ni-Cr金属薄膜桥的电爆炸温度。通过六通道瞬态光学高温计测量金属薄膜桥电爆炸时在514nm、631nm、692nm、715nm、910nm、1068nm波长处的辐照强度,根据黑体辐射理论计算温度值。研究表明,金属薄膜桥在50V、100μF条件下电爆炸时的最高温度在5000K左右,4000K以上持续时间为300ns。

• 单位
  北京理工大学; 爆炸科学与技术国家重点实验室