真空紫外辐照对交联乙烯-四氟乙烯线缆的影响

作者：张海明; 张义; 贾晓; 王凯; 陶兆增; 沈世钊; 王海玉

来源：强激光与粒子束, 2022, 34(11): 98-103.

• 交联乙烯-四氟乙烯线缆
• 真空紫外辐照
• 极限耐电压
• 绝缘电阻
• 微观结构

以航天器舱外用交联乙烯-四氟乙烯共聚物(X-ETFE)线缆为试验对象，采用5倍加速因子对XETFE线缆累计进行了8000等效太阳小时(ESH)真空紫外(VUV)辐照，并通过极限耐电压、绝缘材料电阻测试分析X-ETFE线缆电性能，采用FTIR和SEM表征X-ETFE材料分子结构和微观形貌，以此研究不同VUV辐照时间对X-ETFE线缆的影响。试验结果表明，随着VUV辐照时间的增加，材料表面累积了碳而发生暗化，线缆外观颜色逐渐变为深棕色；X-ETFE线缆的极限耐压和绝缘电阻呈总体下降趋势，但整体电性能水平未发生本质变化；X-ETFE材料在1628 cm-1处的吸收峰逐步增大，说明X-ETFE材料分子链中的-C=C-自由基团随辐照时间而增多，致使材料表面出现了微裂纹现象。

• 单位
  中国电子科技集团公司第二十三研究所