不同树脂粘接剂用于IPS e.max CAD全瓷冠粘接强度及边缘微渗漏的研究

作者：李丽; 项敬周; 马英伦

来源：蚌埠医学院学报, 2020, 45(01): 78-84.

DOI：10.13898/j.cnki.issn.1000-2200.2020.01.020

• 树脂粘接剂
• IPS e.max CAD全瓷冠
• 粘接强度
• 边缘微渗漏

目的:比较采用不同树脂粘接剂对IPS e.max CAD全瓷冠粘接强度及边缘微渗漏的影响。方法:共选取离体前磨牙63颗作为研究对象,常规制作IPS e.max CAD全瓷冠、抗剪切强度样本,按照树脂粘接剂的不同分为A组(21例)、B组(21例)、C组(21例),A组采用Duo-Link树脂粘接剂进行粘接,B组采用Variolink N树脂粘接剂进行粘接,C组采用Kerr NX3树脂粘接剂进行粘接,经过冷热循环、微渗透以及抗剪切强度实验,对3组的抗剪切强度和边缘微渗漏长度进行统计分析。结果:A、B、C 3组抗剪切强度比较差异有统计学意义(P<0.05);3组间两两比较差异无统计学意义(P>0.05)。边缘微渗漏等级中,3组只出现0～3级,A组多为0级,B组多为0级和1级,C组多为1级和2级,3组差异有统计学意义(P<0.05);其中,A组与B组、A组与C组、B组与C组差异有统计学意义(P<0.05)。结论:Duo-Link、Variolink N、Kerr NX3三种树脂粘接剂应用于IPS e.max CAD全瓷冠的粘接强度及边缘微渗漏各有差异,其中Kerr NX3树脂粘接剂的抗剪切强度最高,且边缘微渗漏程度最轻,有较好的粘接和良好的边缘。