采用电感耦合等离子体原子发射光谱法研究了食品接触用铝制品中的Ni迁移规律，并通过光电发射光谱分析法和能谱法(EDS)对食品接触铝制品原材料中Ni的含量和分布形式及来源进行分析。结果表明，不同迁移试验条件下铝制品中的Ni元素迁移量存在明显差异，且Ni元素仅存在于食品接触用铝制品的氧化层中，为阳极氧化封孔工艺所引入。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
