纳米级低开销SEU免疫型XC Domino动态门

作者：张金艺; 唐夏; 周荣俊; 李娟娟; 张秉煜

来源：微电子学与计算机, 2013, (02): 69-73+77.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2013.02.018

• 单粒子翻转
• 交叉耦合多米诺动态门
• 容错设计
• 软错误
• 低开销 single event upset
• cross couple domino
• fault tolerance
• soft error
• low overhead

在纳米级工艺条件下,高速运算单元核心部件XC Domino动态门面临严重的软错误问题.本文提出一种适用SEU类软错误容错设计的免疫型XC Domino动态门,此免疫型动态门借鉴了锁存器单元稳定结构,对于动态门的输出端实施P-type扩散区隔离以完成SEU的防护.通过Spectre电路仿真,验证了SEU免疫型动态门能够实现对于高达2倍Vdd振幅电压脉冲干扰的SEU类软错误容错;另外,与传统XC Domino动态门容错设计方案相比,免疫型动态门能够降低13.64%的门延时,并能在减少47.37%面积开销的同时降低75.54%功耗开销.

• 单位
  上海大学