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摘要
采用电沉积辅助溶胶-凝胶法在FTO导电玻璃基片上制备了V2O5薄膜，研究了前驱体浓度对V2O5薄膜结构、形貌及光学性能的影响。XRD和XPS结果显示，制备的薄膜均为V2O5薄膜，XRD图谱中的衍射峰较为尖锐，薄膜具有良好的结晶性；图谱中未出现其他杂质峰，V2O5薄膜纯度较高。SEM形貌结果表明，V2O5薄膜表面均匀致密，主要由紧密排列的小颗粒组成。UV/VIS/NIR测试结果表明，前驱体浓度对薄膜透射率影响较大，前驱体浓度1∶100时V2O5膜透射率最佳，可达80.18%。红外光谱测试结果表明，相变前后V2O5薄膜的红外透过率由低温半导体态时的89.5%降至高温金属态时的20.5%。
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