CMOS图像传感器辐射损伤研究

作者：邹旸; 黄景昊

来源：湖南理工学院学报(自然科学版), 2017, (3): 44-49.

DOI：10.3969/j.issn.1672-5298.2017.03.009

• CMOS图像传感器
• 辐照实验
• 辐射损伤

考虑γ射线辐射场对视频监控系统中CMOS图像传感器的辐照失效损伤,通过机理分析与辐照实验,研究图像传感器的辐射损伤效应以及对其性能参数的影响.设计辐照实验,选用同种工艺不同厂商生产的几类CMOS图像传感器,研究γ射线对CMOS图像传感器的损伤效应.实验结果表明,γ射线总剂量效应导致暗电流增大,从而使像素灰度值增大;γ射线瞬态电离效应在CMOS图像传感器像素阵列中形成雪花状的随机正向脉冲颗粒噪声,

• 单位
  海南核电有限公司