非线性模拟电路可测试性度量研究

作者：徐庆尧; 崔少辉; 徐长彬; 韩路杰

来源：计算机测量与控制, 2012, (06): 1515-1517.

• 可测性度量
• 非线性模拟电路
• 分段线性化方法 testability measure
• nonlinear analog circuit
• piecewise linear method

模拟电路的可测试性度量是指导其进行可测试性设计的基础,针对目前非线性模拟电路可测试性分析过程复杂,无法量化的问题,在深入研究模拟电路可测试性度量和非线性模拟电路特性的基础上,利用分段线性方法将非线性模拟电路近似等效为线性模拟电路,并给出了非线性模拟电路可测试性度量的计算方法,极大拓宽了可测试性度量的应用范围;最后通过实例详细讲解了计算过程,并利用模拟电路可测试性度量的定义验证了该结果的有效性,该方法计算量小,不受容差影响,对非线性模拟电路可测试性研究具有一定的指导意义。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学