面向OLED屏像素缺陷检测的新方法

作者：汪志亮; 高健; 赵伟明

来源：计算机工程与应用, 2012, (26): 177-180.

• 图像处理
• 有机发光显示器(OLED)
• 缺陷检测
• 差影法
• K-均值聚类 image processing
• Organic Light Emitting Display(OLED)
• defect detection
• subtracting method
• K-means clustering

有机发光显示器OLED(OrganicLED)的内部像素缺陷常由于尺寸小、对比度不高、且灰度与像素轮廓灰度相近等问题,在使用传统阈值分割方法处理时会将像素轮廓保留下来,因而不能达到缺陷的有效检测目的。提出一种多次迭代差影法的OLED屏像素缺陷检测方法。该检测算法在对图像进行中值滤波和图像增强处理后,对图像实施多次像素模板提取和差影运算,获取到对比度较低的缺陷图,运用K-均值聚类方法对图像进行分割,从而较好地实现缺陷的识别。运用Labview和IMAQVision软件包工具,编程实现所提出的算法,并通过实际获取的OLED图片验证了方法的有效性。结果表明,该方法能很好地保持缺陷的细节,并能检测到8...

• 单位
  广东工业大学; 东莞宏威数码机械有限公司