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摘要
运用波恩奥本海默分子动力学模型结合密度泛函理论研究了气相下硫脲嘧啶与低能电子吸附解离动力学过程， 发现硫脲嘧啶及其互变异构体在吸附解离过程中一个重要的脱氢现象， 即特定位置的N-H键， C-H键断裂， 使其在N位点和C位点失去氢原子， 形成解离过程中最主要的负离子碎片—闭壳层脱氢负离子(TU-H)-. 为了更为深刻认识脱氢现象， 分别对断裂的化学键进行势能曲线扫描， 键解离能， 电子亲和能以及负离子(TU-H)-出现势进行计算对比发现， 在所有断裂的化学键中N-H键最容易发生断裂， 而负离子(TU-H)-的形成主要源于N-H键的断裂.
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