摘要
<正>1引言Broadbent和Hofruth在1931年创立了头影测量分析的定位正侧位X线片的拍摄方法和技术。它可以量化个体或人群的颅面部参数,区分正常与异常的解剖形态,对治疗前后进行对比[1-2]。随着电子计算机及其相关技术的发展,1958年,丹麦皇家牙学院的Bjrk和Solow首次将计算机技术应用于X线头影测量和临床工作中。20世纪70年代计算机技术大量应用于头影测量分析和辅助诊断。美国科学家Walker首次应用计算机系统化地进行头影测量分析。我国于80年代开始应用计算机。Rudolpf等将头影测量技术半个世纪的
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单位中国人民解放军沈阳军区总医院