开关设备中双典型缺陷的局部放电特性研究

作者:王流火; 吕鸿; 王增彬; 谭令其; 吴吉
来源:高压电器, 2018, 54(11): 265-272.
DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2018.11.039

摘要

在商用实体开关腔体中对典型局部放电源的放电特征进行了分析研究。综合应用暂态对地电压(TEV)和特高频(UHF)技术对单一典型缺陷的局部放电和双典型缺陷局部放电分别进行了检测与分析。实验结果表明,随着电压升高,典型局部放电源的放电量逐渐增大,发生放电的相位也逐渐变宽。局部放电信号相对幅值均与所加电压成近似线性关系,幅值能够表明其局部放电的严重程度。不同典型缺陷的局部放电信号放电脉冲相位图谱不同。当两者典型局部放电源同时存在时放电脉冲相位图谱会进行叠加,从而影响PRPD图谱的形状,可依据典型局部放电的典型图谱进行区分。

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