IGBT模块功率循环能力与可靠性试验

作者：李世平; 黄蓉; 奉琴; 万超群; 陈彦

来源：机车电传动, 2015, (03): 15-18.

DOI：10.13890/j.issn.1000-128x.2015.03.004

• IGBT模块
• 封装结构
• 失效
• 功率循环
• 模块性能
• 可靠性试验

为验证IGBT模块的可靠性,分析了IGBT模块的封装结构,并在传统IGBT模块功率循环试验的基础上建立新的模型,通过具体的试验得到IGBT模块功率循环后失效状况,并对该状况进行分析。相对传统IGBT寿命预测和可靠性评估,该功率循环的新方法更加贴合实际应用工况,对IGBT失效分析具有借鉴作用。

• 单位
  株洲南车时代电气股份有限公司