半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声

作者：石英学; 李靖; 郭树旭; 张素梅; 王雪丹; 石家纬

来源：吉林大学学报(理学版), 2004, (04): 600-602.

DOI：10.13413/j.cnki.jdxblxb.2004.04.027

• 半导体激光器
• 噪声
• 退火

在环境温度和工作电流下,对808nm高功率量子阱激光器进行老化实验,发现在老化过程中一些劣质器件电噪声谱密度呈下降趋势,产生退火效应.本文应用初始性缺陷(高温高能条件下所形成的缺陷)和非初始性缺陷理论,探讨了器件发生退火及早期失效的原因.

• 单位
  吉林大学