采用场发射扫描电镜对两种负载纳米金属颗粒的碳纳米管进行了分析表征.采用高位能量选择式背散射电子检测器能够在低加速电压下观察纳米金属颗粒在碳纳米管表面的分布情况.常规二次电子检测器中含有部分背散射电子信号,采用二次电子检测器可以在低加速电压下对包覆金属纳米颗粒的中空碳纳米管中金属颗粒的分布情况进行观察.采用In-lens检测器,需要在相对较高的加速电压下才能观察到碳纳米管中的纳米金属颗粒.
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