LLC串联谐振式开关电源MOSFET故障诊断研究

作者:刘婷; 闻心怡; 陈刚; 王溯勇; 刘禹希; 章先涛
来源:电测与仪表, 2020, 57(02): 147-152.
DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2020.002.023

摘要

针对在LLC串联谐振式开关电源中起关键作用但故障率高的MOSFET,基于Cadence/Or CAD PSpice软件环境,分析MOSFET的故障失效模式及其在电路中造成的影响,以电路功能模块之间的关键输入/输出为故障特征提取点,建立故障特征集,并分别采用基于K-CV优化的支持向量机算法和基于GA优化的BP神经网络算法。诊断结果表明,所选择的测点数据基本保留电路中MOSFET的故障特征,两种算法均具备较高的诊断准确率。文中提出的诊断策略具有实际可操作性强、运算简洁的特点。

  • 单位
    武汉第二船舶设计研究所