基于ELM-MPLS的质量相关故障检测方法研究

作者：张蕊; 李强; 杨治艳^*; 杨茜; 赵美枝

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2023, 41(03): 85-90.

• 极限学习机
• 改进的偏最小二乘
• 质量预测
• 过程监测
• 故障检测

在工业生产过程中，很多产品的质量难以使用传感器来直接测量。因此，出现了偏最小二乘和潜在结构全投影等过程监测方法，但它们的质量相关故障检测效果并不理想。为此，提出了一种基于极限学习机（ELM）与改进的偏最小二乘（MPLS）的质量相关故障检测方法。该方法首先采用ELM进行质量预测，然后根据预测结果进行过程监测，最后采用田纳西伊斯士曼（TE）过程验证其质量相关故障检测的有效性。实验结果表明，ELM-MPLS不仅可以实现质量预测还提高了质量相关故障检测率，具有良好的质量相关故障检测效果。

• 单位
  北京精密机电控制设备研究所; 兰州万里航空机电有限责任公司; 工业和信息化部; 工业和信息化部电子第五研究所; 山西大同大学