用于光学薄膜缺陷检测的快速图像分割算法

作者：钟球盛; 李静蓉; 胡广华

来源：机电工程, 2011, 28(10): 1170-1175.

DOI：10.3969/j.issn.1001-4551.2011.10.002

• 误差修正
• 光学薄膜
• 缺陷检测
• 图像分割 error correction
• optical film
• defect inspection
• image segmentation

为减少光学薄膜缺陷的漏检和误判,提高检测的快速性,提出了一种基于误差修正理论的图像分割算法。该算法接受带有随机误差的背景图像,并以各像素点灰度值残余误差与标准差的偏离程度作为分割依据,最终将缺陷检测转化为粗大误差判别。该算法使每个像素点都具有一个自动更新的最佳分割阈值,可改善全局或局部阈值分割不彻底的缺点。由于在系统初始化阶段标准均值背景图像已构建完毕,正常检测过程中仅需一次减法运算即可完成缺陷的分离;只有当背景图像灰度变化积累到一定程度时,才需要更新标准均值背景图像和标准差,因而算法总体运算量极小。实验结果表明,该算法能有效抑制图像噪声,克服由于目标与背景灰度级差极小而导致的分割困难,实现光...

• 单位
  广州南沙华卓化工有限公司; 华南理工大学