基于大尺寸DIP陶封器件在高加速离心试验中的高失效率问题及其典型的失效模式,用有限元分析软件workbench对这类器件进行了失效分析,确定了引发失效的原因为使器件中部悬空的装夹方式存在问题,进而针对这一问题提出了相应的改进。
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