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摘要
多焦点结构光显微成像技术（multifocal structured illumination microscopy, MSIM）利用稀疏的多点聚焦激光激发样品成像，可以在进行厚样品成像时获得超过衍射极限的横向分辨率以及层析成像效果。在现有MSIM技术中，事先标定每个激光焦点在采集图像中的精确位置对于抑制离焦信号和获得高横向分辨率至关重要。但是这些焦点位置往往会收到系统结构变形等因素的影响而产生变动，需要经常进行繁琐的标定和校准工作。针对以上问题，提出了一种无需估计焦点位置的新型多焦点结构光成像方法，将基于频域反卷积原理的超分辨方法与方差层析成像方法相结合，获得层析-超分辨图像的过程与激光焦点位置无关。通过仿真和实验结果验证了该方法的有效性。
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