摘要

利用Klein-Nishina公式,可以从γ射线能谱数据推算出康普顿反冲电子角的分布。NaI(Tl)单晶闪烁探测器和高纯锗(HPGe)探测器将分别用于获取γ射线能谱,以期比较在康普顿反冲电子角分布测量中2种探测器测量结果的准确性,借此反观两种探测器性能的优劣。基于测量结果进行简要的分析和讨论,发现HPGe探测器因其优异的能量分辨率和良好的能量线性,在康普顿反冲电子角的分布测量实验中更胜一筹。