一种逻辑电路自动上下电电测系统的设计

作者：魏建中; 王希清

来源：电子元器件与信息技术, 2022, 6(09): 39-42.

DOI：10.19772/j.cnki.2096-4455.2022.9.011

• 逻辑电路
• 自动上下电
• 测试系统

随着电子信息技术的发展，自动化设备替代人力已成为趋势，对自动化设备的可靠性要求越来越高。本文针对逻辑电路主要靠人力进行上下电测试、操作繁琐、效率低下的现状，研究了一种基于电子信息集成技术、嵌入式系统的且可实现自动循环上下电电测的测试系统，实现了上下电测试智能化。

• 单位
  杭州士兰微电子股份有限公司