DWI及SWI联合应用对急性弥漫性轴索损伤的诊断价值

作者：刘文源; 张立波; 邹明宇; 吴越; 赵传胜; 杨本强; 张怡

来源：中国医科大学学报, 2014, 43(11): 1033-1035.

• 弥漫性轴索损伤
• 磁共振成像
• 弥散加权成像
• 磁敏感加权成像

回顾性分析21例临床确诊弥漫性轴索损伤(DAI)的患者MR T1WI、T2WI、液体衰减反转恢复序列(FLAIR)、磁弥散加权成像(DWI)和磁敏感加权成像(SWI)序列图像资料,分析其各自信号特征及分布特点,比较各序列上脑内轴索损伤病灶检出率的差异。结果发现,DAI病灶主要分布的部位是脑灰白质交界区、基底节区、丘脑、深部脑白质区、胼胝体、脑干、小脑等近脑中线区域。非出性DAI病灶(DWI)的检出率最高,与其他序列比较差异有统计学意义(P<0.05);出血性DAI病灶SWI序列检出率最高,与其他序列比较均有统计学差异(P<0.05)。因此认为联合应用DWI和SWI序列能非常敏感地检出外伤后DAI患者的脑内微出血灶和小水肿灶,为DAI早期临床诊断及预后评价提供更多客观依据。

• 单位
  中国医科大学附属第一医院; 神经内科; 沈阳军区总医院