50 nm X射线光刻掩模制备关键技术

作者:董立军; 陈大鹏; 谢常青; 韩敬东; 叶甜春; 伊福廷; 彭良强; 韩勇; 张菊芳
来源:核技术, 2004, (02): 96-98.

摘要

X 射线光刻(XRL)采用约 1nm 波长的 X 射线,是一种接近式光刻。就光刻工艺性能而言,XRL 能同时实现高分辨率、大焦深、大像场等,是其他光刻手段难以比拟的。由于不需要辅助工艺,因而工艺成本很低。掩模制造技术是 XRL 开发中最为困难的部分。本文介绍了适用于 50 nm XRL 的掩模制备的关键技术。