利用HPGe γ谱仪快速测量226Ra

作者：张轶名; 於国兵; 杜勤; 闻德运; 顾先宝; 潘灵婧

来源：核电子学与探测技术, 2014, 34(09): 1132-1134.

• HPGe
• γ谱分析
• 226Ra
• 快速测量

HPGeγ谱分析中,一般通过测量222Rn的子体来确定样品中226Ra的含量,这种方法需要对样品密封数周后测量,无法实现样品中226Ra含量的快速测量。文章分析了样品γ谱中186 ke V全能峰的计数来源,对使用186 ke V全能峰计算出的226Ra的含量结果进行修正,得到较好的实验结果,实现了用186 ke V全能峰快速测量样品中Ra的含量。

• 单位
  安徽省辐射环境监督站; 中国科学技术大学