本文提出了一种基于单幅散斑条纹和相移光栅条纹投影的物体三维轮廓测量系统。该系统在物体表面投射散斑图案获得初始的匹配点对后,再通过投射相移光栅条纹解得的主值相位场对获得的点对进行精确匹配。所提出的方法通过投射散斑图案确定不同视角下对应像素点的所在位置,不需要采用解包裹算法得到全场完整的相位场,使得每一像素点的精确匹配点可以直接在主值相位场中获得。实验证明所提出的方法可以获得高质量的三维形状测量结果,且相比于传统的投影光栅相位法在速度上有较大提升,增加了光栅投影三维测量的实用性。
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