摘要

采用熔融淬火和可控析晶法制备了(Na,K)NbO3玻璃陶瓷在K2O-Na2O-Nb2O5-B2O3-SiO2玻璃系统中,通过SEM微观形貌分析、P-E电滞回线测试、复阻抗图谱测试和活化能研究了对玻璃陶瓷铁电性能有负面影响的界面极化效应。根据P-E电滞回线的测试结果,发现在较高的结晶温度下,随着晶化时间的延长,空间电荷的积累和界面极化变得非常严重;根据复阻抗图谱的测试结果,发现晶界电阻的降低与由晶粒与玻璃基体之间丰富的界面引起的Maxwell-Wagner界面弛豫引起的缺陷热激活运动有关。结果表明,在较高温度下热处理的(Na,K)NbO3玻璃陶瓷具有较高的结晶程度、较大的界面密度、聚集在界面处的大量的空间电荷以及较低的活化能。这就证明了铁电相结晶程度越高,电阻率和活化能越低,界面处电荷更易扩散。较好的电荷扩散行为和急剧增加空间电荷导致击穿强度大幅度降低,从而使玻璃陶瓷材料储能性能变差。