摘要

为研究硅基光波导中耦合诱导透明和光学Fano共振效应,设计并加工了一种串联双环谐振腔结构。通过高温退火表面光滑化处理,使得波导粗糙度降低为0.545 nm,实验中利用垂直光栅耦合法对结构进行测试,测试结果表明:当两环半径相等时,由于相消干涉,产生CRIT效应;当两环半径不相等时,产生谐振分离现象。同时与传统的单环谐振腔结构相比,串联双环谐振腔结构半高全宽(FWHM)增强了3倍,并且降落端口消光比增加了20 dB。