经典X线头影测量分析方法及其国内应用

作者：胡关举; 徐宇红

来源：中国美容医学, 2015, 24(16): 83-85.

DOI：10.15909/j.cnki.cn61-1347/r.000639

• 头影测量
• 分析法
• 眼耳平面
• 正常牙合
• 错牙合畸形
• 下切牙
• 上下颌骨
• 颅面结构
• 下中切牙
• 下颌平面
• 经典

<正>1931年,美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片,然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓,并测量线距与角度进行测量分析。这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里,让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代,使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。

• 单位
  遵义医学院第五附属（珠海）医院