由于器件的约束条件不同,在数字信号处理中通常要对AD采样后的信号进行量化处理,如何提高量化的性能是量化的关键。针对N(μ,σ2)高斯分布的量化信号,使用理论推导的方式,得到量化损耗与限幅门限的关系式,并推导出对应量化损耗最小的最优限幅门限公式,其推导方法同样适用于其他随机信号。仿真试验证明了该公式的正确性,结论可应用于工程实现。
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