摘要

本次研究主要是利用数字电路芯片检测系统中的双列直插形式进行研制,根据芯片的功能以及特点完成建设过程,对于单片机中的各项程序进行检测,检查芯片的使用情况,将结果利用液晶屏或LED灯进行展示。本文主要介绍此种系统中主要的部分,并详细介绍检测实现的过程,完成数字电路芯片检测系统的研制应用过程。

  • 单位
    烟台北方星空自控科技有限公司