科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
双极型晶体管性能统计分布在电离辐射之后会发生变化，从辐射前对称的正态分布转化为辐射后非对称的对数正态分布，这一统计特性转化缺乏清晰的物理图像。为了从微观机理层次解释这一转化过程，通过大样本定制晶体管电离辐射效应实验，获得基极电流、界面陷阱电荷辐射前后的统计特性，发现两者统计特性转化具有一致性。基于基极电流的解析物理模型分析发现辐射前后基极电流统计特性转化源自于界面陷阱电荷统计特性转化，并基于中心极限定理给出了界面陷阱电荷辐射前后统计特性转化的物理解释，即界面缺陷面密度的分散性转化源于多个随机变量以乘积形式实现界面缺陷物理过程。
-
单位中国工程物理研究院电子工程研究所; 中国工程物理研究院
