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摘要
红外和太赫兹范围内的扫描近场光学显微镜能够突破衍射极限，实现更小的空间分辨率，在纳米尺度结构的光学特性分析检测方面具有重要应用。为了进一步理解探针与样品的相互作用，对探针近场的分析和数值描述是必不可少的。基于真实的探针形状的解析模型，结合数值模拟的开发了源偶极子模型（SDM），能够直接获得近场检测信息，提高计算效率。基于模拟结果，解释了天线效应、尖端半径影响和电荷量的影响，并将SDM模型结果与全波仿真（FWS）结果进行了比较。为进一步理解近场光学显微镜中的针尖-样品结提供了新的视角。
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