"新工科"背景下高等院校迫切需要创新教学方法,结合科研课题进行案例教学是一个有效举措。针对数字电路学科中的一类前沿问题"数字电路老化"展开了深入研究。随着芯片制造工艺的不断改进,电路的老化效应面临着新的情况与挑战。负偏置温度不稳定性(NBTI)是影响电路老化的主要因素,针对这一课题结合静态时序分析来精准地预测电路老化延时情况。通过汇聚不同学科的知识点来有效解决问题,深化了同学们的认识,提升了他们的学习兴趣,取得了很好的教学示范效果。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
