光学元件高反射比、高透射比测试技术研究

作者：范纪红; 侯西旗; 袁良; 杨斌; 秦艳; 宋金鸿

来源：应用光学, 2011, (06): 1184-1188.

• 高反射比
• 高透射比
• 陷阱探测器
• 积分球探测器 high reflectance
• high transmittance
• trap detector
• integrating sphere detector

为了实现光学元件、光学薄膜等高反射比、高透射比的测量,以单次反射测量法为基础,并结合激光稳功率技术、双光路测量技术以及精密探测技术,建立了一套精密测试系统,实现对光学元件632.8nm和1 064nm两个波长下高反射比与高透射比的测量。实验和测量不确定度分析验证测试系统在632.8nm波长下高反射比与高透射比的测量不确定度优于0.008%,在1 064nm波长下高反射比与高透射比的测量不确定度优于0.015%。

• 单位
  西安应用光学研究所