一种针对非接触智能卡的抗干扰测试方法

作者：杨利华

来源：中国集成电路, 2023, 32(08): 86-89.

• 数据破坏
• 非接触智能卡
• 抗干扰测试

智能卡业界领域很少有专门针对非接触智能卡的抗干扰测试方法，但非接触智能卡同样存在数据健壮性问题，需要进行抗干扰测试，本文专门介绍一种非接触智能卡的抗干扰测试方法。

• 单位
  北京中电华大电子设计有限责任公司