基于无线传感器的光学元件表面疵病检测

作者：王振岭; 于学斗; 李海军

来源：激光杂志, 2020, 41(10): 102-105.

DOI：10.14016/j.cnki.jgzz.2020.10.102

• 无线传感器
• 光学元件
• 表面疵病
• 特征提取
• 极差变换法

受光照影响现有方法得到的光学元件表面疵病检测结果偏差较大,并且检测耗时较长,为提高光学元件检测精度,提出基于无线传感器的光学元件表面疵病检测方法。对光学元件表面疵病特征进行提取,根据提取结果采用极差变换法对受光照散射影响产生的分散数据进行变换,划分数据子集,并计算表面疵病面积。在此基础上,基于无线传感器网络构建疵病定位模型,缩小检测范围,提高检测效率,从而实现对光学元件表面疵病的检测。实验结果表明,该方法在光照条件下能够准确检测出光学元件的表面划痕,检测结果准确性较高,且耗时较短,说明该方法的检测结果具有可靠性。

• 单位
  德州学院