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摘要
目的 探究重复经颅直流电刺激后健康大学生前额叶脑区功能连接的变化。方法 选取某大学在读本科生39名，利用随机数表法将被试分为刺激组(n=21)和对照组(n=18)，使用强度为1.5 mA的经颅直流电刺激对两组被试实施为期4周、共12次的干预(对照组为假刺激)，每次干预持续20 min，通过功能性近红外光谱技术在试验前(基线)、试验中(第14天)、试验后(第28天)3个时间点对被试的前额叶静息态功能连接进行评估。结果?近红外光谱数据显示，P值校正前刺激组发生功能连接变化的通道占比(29.71%)远高于对照组(7.03%)；采用Bonferroni法对P值进行校正后显示，试验后刺激组两侧额叶及额叶间的功能连接较实验前减弱(P’<0.05)，而对照组无明显变化。结论 重复经颅直流电刺激能够降低功能连接，提升前额叶皮质的连通效率。
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