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摘要
荧光测温是一种高灵敏度的光致光学测温方法，可用于测量温度动态变化。但荧光涂层低导热率的特点，可能会改变荧光涂覆物体（如测量探头）的非稳态传热特性，进而影响热响应过程的测量精度。针对微小荧光测温探头的热响应过程，该文采用理论分析和数值计算相结合的方法研究探头随主流流体温度变化的非稳态传热特性。研究结果表明，探头荧光涂层的热响应时间不仅受外表面对流换热条件的影响，同时受到探头基座导热热阻的影响。涂层温度达到稳定状态需要基座也基本达到稳定状态。当采用高导热材料时，探头内部基座的热响应速率随荧光涂层厚度的变化不明显。
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