基于PCI-1711数据采集卡的PTCR伏安特性测试系统

作者：赵俊; 孙毅; 罗为; 周东祥

来源：仪表技术与传感器, 2006, (04): 30-31.

DOI：10.3969/j.issn.1002-1841.2006.04.012

• PTCR
• 伏安特性
• 数据采集
• PCI
• 时分复用

利用PC机和基于PCI总线的高速数据采集卡PCI-1711,开发出了新型PTCR伏安特性测试系统。利用采集卡的数字量输出与模拟量输入功能,配以外围接口电路,有效地实现了对电路的控制和对所需数据的采集,同时能对十工位PTCR的伏安特性进行测量。还介绍了时分复用技术在测试系统中的应用。

• 单位
  华中科技大学