集成电路综合自动测试系统软硬件接口设计

作者:冯建呈; 闫丽琴; 王占选; 冯敏洁; 周欣萍; 孟旭
来源:计算机测量与控制, 2023, 31(07): 1-41.
DOI:10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2023.07.001

摘要

为满足日益增长的集成电路测试需求,研制了集成电路综合自动测试系统;该系统对外包含软件平台接口和硬件平台接口;软件平台接口主要针对在被测集成电路规模越来越庞大的背景下,测试程序开发成本高、但软件测试平台之间不能互相兼容的问题,设计了一种基于自动测试模型的集成电路测试程序开发方法,并采用典型集成电路进行了测试验证,可满足测试程序开发的需要;硬件平台接口主要满足高速信号等的传递需求,设计了基于弹性对接技术的硬件平台接口,并进行了结构尺寸、信号传递特性等指标的测试,测试数据表明,可实现测试接口板与测试头之间的稳定连接,满足最高1.6 Gbps、最大2 048通道数字信号等的传递需求。

  • 单位
    北京航天测控技术有限公司; 北京宇航系统工程研究所

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