脉冲电晕放电电子能量及OH,O或O_3对NO氧化的光谱学研究

作者：轩俭勇; 骆仲泱; 赵磊; 江建平; 高翔

来源：光谱学与光谱分析, 2012, 32(05): 1157-1161.

• 脉冲电晕放电
• 电子能量
• 发射光谱

采用发射光谱法测量了线板式脉冲电晕放电中激发态氮气分子N2*和离子N2+的光谱强度,并与数值计算获得的结果进行对比,确定放电电场的空间分布及平均电子能量。水平与竖直方向离开线电极0～2cm,随着距离的增加,平均电子能量和电场均呈先减后增的变化趋势;放电电场变化范围11.05～19.6MV.m-1,对应的平均电子能量的变化范围10.10～13.92eV。这一能量水平的电子足以与O2,H2O分子碰撞产生O,OH自由基,并进一步反应生成O3。在NO氧化过程中,NO可与OH自由基共存,但不能与O3共存;且O3或O氧化NO的效率高于OH自由基,推断O3或O在NO的氧化过程中起关键作用。

• 单位
  浙江大学; 能源清洁利用国家重点实验室