全球电离层地图TEC数据的插值算法

作者：曲仁超; 苗洪利; 苟瑞锟; 毛鹏

来源：空间科学学报, 2021, 41(03): 411-416.

• 全球电离层地图
• 高度计
• 时间插值
• Kriging插值
• 双线性插值

由IGS工作组提供的全球电离层地图(GIM)是电离层重要的应用数据.卫星高度计能够提供全球实时的电离层延迟误差校正.利用GIM数据,以Jason-3时空分辨率进行电离层总电子含量(TEC)的时间维度插值和空间维度插值,其中空间维度插值采用了 Kriging插值和双线性插值两种方法.针对两种插值方法得到的总电子含量,与平滑处理的Jason-3高度计cycle80双频延迟校正值转化的总电子含量进行对比分析.结果显示:其与Kriging插值的平均偏差为0.94TECU,均方根误差为2.73 TECU,相关系数为0.91;与双线性插值的平均偏差为1.43 TECU,均方根误差为6.85 TECU,相关系数为0.61.这说明Kriging插值方法的精度明显高于双线性插值方法.

• 单位
  中国海洋大学